PCT試驗箱（PCT test chamber）又稱PCT老化箱，主要應用于測試半導體封裝之濕氣能力。這種設備可以模擬嚴苛的溫度、濕度以及壓力條件，以檢測半導體產(chǎn)品的耐壓性、氣密性以及密封性能。

在半導體行業(yè)，PCT試驗機的具體應用包括但不限于以下方面：

氣密性檢測：PCT試驗機可以模擬產(chǎn)品在實際使用中可能遇到的各種環(huán)境應力，如溫度循環(huán)、濕度、振動、沖擊等，測試產(chǎn)品的耐壓性、氣密性以及密封性能。通過這種方式，可以檢測半導體封裝體的氣密性，以確保產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下依然能夠保持其完整性。

封裝體內(nèi)部的濕氣滲入測試：濕氣會沿膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見的問題包括主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。通過PCT試驗機模擬這一過程，可以檢測出這些潛在的問題并采取相應的改進措施。

高溫高濕測試：PCT試驗機可以模擬高溫高濕的環(huán)境，用于對半導體產(chǎn)品進行高溫高濕條件下的性能測試。這種測試可以檢測產(chǎn)品在高溫高濕環(huán)境下的穩(wěn)定性、可靠性和耐久性。

加速老化測試：通過使用PCT試驗機進行加速老化測試，可以模擬產(chǎn)品在實際使用中可能遇到的各種環(huán)境應力，如高溫、高溫高濕以及壓力等，并利用這種測試來檢測產(chǎn)品的性能是否能夠達到要求。

滿足標準和執(zhí)行條件：

符合MIL STD GB JIS JEDEC IEC ISO等測試規(guī)范

用途：

PCT試驗箱主要用于對電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、金屬材料及其磁性材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關性能進行測試，通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達到要求，以便供產(chǎn)品的設計、改進、檢定及出場檢驗使用。

特點：

1.采用進口耐高 電磁閥雙路結(jié)構，在上降低了使用故障率。

2.蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

3.門鎖省力結(jié)構，解決代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。

4.試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣(試驗桶 空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性。

5.超長效試驗運轉(zhuǎn)時間，長時間實驗機臺運轉(zhuǎn)1000下。

6.水位保護，透過試驗室 水位Sensor檢知保護。

7.tank耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6kg。

8.安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕。

規(guī)格：

結(jié)構：

Product mix：

1.內(nèi)桶材質(zhì)：不銹鋼版材質(zhì)#SUS-316制

2.外桶材質(zhì)：不銹鋼板材質(zhì)#SUS-304制

3.控制系統(tǒng):采用日制RKC-CB100 微電腦控制飽和蒸汽溫度，時間控制器采用LED顯示器，采用指針顯示壓力表，微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸汽溫度，手動入水閥。