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HCT耐電流測(cè)試系統(tǒng)(Current Loading Test或High Current Test System)又稱耐電流測(cè)試儀、耐電流測(cè)試機(jī)。是一種用于測(cè)試和評(píng)估電氣設(shè)備在高電流條件下的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。可以測(cè)試電子元器件、電路板和電子設(shè)備在不同電壓、電流等工作條件下是否穩(wěn)定、是否符合安全、可靠性和性能要求的測(cè)試儀器。主要作用是檢測(cè)和評(píng)估電子設(shè)備的耐電流能力,也可以用來(lái)測(cè)試電路板的電氣性能和損壞情況。
HCT耐電流測(cè)試系統(tǒng)能夠?qū)Υ郎y(cè)電子元器件或電路板在給定電流條件下運(yùn)行的穩(wěn)定性、故障率和電性能進(jìn)行測(cè)試。通常,它可以通過(guò)測(cè)試電流值、電壓、電阻、功率等參數(shù),來(lái)評(píng)估待測(cè)電子元器件或電路板的耐電流水平、可靠性和電氣性能等特性,從而判斷其是否能滿足相關(guān)的設(shè)計(jì)要求和實(shí)際應(yīng)用需求。
全自動(dòng)耐電流測(cè)試儀主要特點(diǎn)如下:
? 儀器采用高精度的模塊和儀表,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性
? 超大測(cè)試平臺(tái),可適用于700mm的PCB板尺寸
? 測(cè)試探頭自動(dòng)升降。測(cè)試完成后樣品自動(dòng)冷卻
? CCD自動(dòng)對(duì)位
? 可以適應(yīng)不同設(shè)計(jì)和類型的測(cè)試coupon
? 儀器可以進(jìn)行電阻校正,電流校正,系統(tǒng)自我檢測(cè)
? 可以升級(jí)配置機(jī)械手自動(dòng)上下板
? 實(shí)時(shí)顯示溫度,電阻,電流曲線,高速實(shí)時(shí)采樣測(cè)試,迅速及時(shí)捕捉到失效
? 設(shè)置超溫保護(hù),防止樣品燒毀
? 參數(shù)測(cè)試時(shí)一鍵全自動(dòng)抓取電流參數(shù)
? 可以設(shè)定多種不同的失效判斷條件
? 實(shí)時(shí)保存每個(gè)樣品的測(cè)試數(shù)據(jù)
? 測(cè)試數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析
? 一鍵輸出excel測(cè)試報(bào)告
? 提供專業(yè)的配套增值服務(wù)
耐電流測(cè)試是測(cè)試PCB產(chǎn)品的孔互聯(lián)可靠性的一種測(cè)試方法。耐電流測(cè)試是在特殊設(shè)計(jì)的孔鏈上施加一定的直流電流,并持續(xù)一段時(shí)間,電流在孔鏈上產(chǎn)生焦耳熱,熱量傳導(dǎo)到孔附近的基材,基材受熱膨脹, Z方向尺寸變大,產(chǎn)生膨脹應(yīng)力,作用于孔上下焊盤之間,當(dāng)孔的互聯(lián)可靠性不良時(shí),膨脹應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致孔斷裂,從而檢測(cè)出孔的互聯(lián)可靠性不良。
全自動(dòng)耐電流測(cè)試儀采用高精度的模塊和儀表,控制PCB孔鏈以一定的升溫速度升溫,達(dá)到設(shè)定的溫度后,保持一定的時(shí)間,并實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)孔鏈的溫度,電流,以及電阻變化。
全自動(dòng)耐電流測(cè)試儀自動(dòng)完成測(cè)試探頭移動(dòng),對(duì)位,上下,樣品的參數(shù)測(cè)試和批量測(cè)試,樣品冷卻,數(shù)據(jù)保存和記錄,數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析,以及測(cè)試報(bào)告的輸出等。
型號(hào) |
CHCT-6010A |
輸出電流 |
0-10A |
輸出電壓 |
0-60V |
電阻測(cè)量范圍 |
0-1MΩ |
樣品溫度測(cè)量范圍 |
室溫-350℃, |
測(cè)試時(shí)間 |
可以任意設(shè)置>10S的值 |
測(cè)試模式 |
1, 恒流模式;2,恒溫模式; |
測(cè)試探頭 |
4線測(cè)試探頭 |
測(cè)試探頭高度調(diào)節(jié) |
Z軸馬達(dá)自動(dòng)調(diào)節(jié) |
測(cè)試?yán)鋮s方式 |
壓縮空氣強(qiáng)制冷卻 |
對(duì)位 |
雙CCD, 全自動(dòng)CCD對(duì)位,全自動(dòng)4軸(XYZR) |
測(cè)試程序 |
可編程測(cè)試點(diǎn)列表,可進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)試(MP模式),可進(jìn)行循環(huán)測(cè)試(CL模式)。 |
可測(cè)試樣品尺寸 |
不小于700mm。 |
自動(dòng)上下板 |
可以配套自動(dòng)上下板(選配項(xiàng)) |
HCT耐電流測(cè)試系統(tǒng)(Current Loading Test或High Current Test System)又稱耐電流測(cè)試儀、耐電流測(cè)試機(jī)。是一種用于測(cè)試和評(píng)估電氣設(shè)備在高電流條件下的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。可以測(cè)試電子元器件、電路板和電子設(shè)備在不同電壓、電流等工作條件下是否穩(wěn)定、是否符合安全、可靠性和性能要求的測(cè)試儀器。主要作用是檢測(cè)和評(píng)估電子設(shè)備的耐電流能力,也可以用來(lái)測(cè)試電路板的電氣性能和損壞情況。
HCT耐電流測(cè)試系統(tǒng)能夠?qū)Υ郎y(cè)電子元器件或電路板在給定電流條件下運(yùn)行的穩(wěn)定性、故障率和電性能進(jìn)行測(cè)試。通常,它可以通過(guò)測(cè)試電流值、電壓、電阻、功率等參數(shù),來(lái)評(píng)估待測(cè)電子元器件或電路板的耐電流水平、可靠性和電氣性能等特性,從而判斷其是否能滿足相關(guān)的設(shè)計(jì)要求和實(shí)際應(yīng)用需求。
全自動(dòng)耐電流測(cè)試儀主要特點(diǎn)如下:
? 儀器采用高精度的模塊和儀表,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性
? 超大測(cè)試平臺(tái),可適用于700mm的PCB板尺寸
? 測(cè)試探頭自動(dòng)升降。測(cè)試完成后樣品自動(dòng)冷卻
? CCD自動(dòng)對(duì)位
? 可以適應(yīng)不同設(shè)計(jì)和類型的測(cè)試coupon
? 儀器可以進(jìn)行電阻校正,電流校正,系統(tǒng)自我檢測(cè)
? 可以升級(jí)配置機(jī)械手自動(dòng)上下板
? 實(shí)時(shí)顯示溫度,電阻,電流曲線,高速實(shí)時(shí)采樣測(cè)試,迅速及時(shí)捕捉到失效
? 設(shè)置超溫保護(hù),防止樣品燒毀
? 參數(shù)測(cè)試時(shí)一鍵全自動(dòng)抓取電流參數(shù)
? 可以設(shè)定多種不同的失效判斷條件
? 實(shí)時(shí)保存每個(gè)樣品的測(cè)試數(shù)據(jù)
? 測(cè)試數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析
? 一鍵輸出excel測(cè)試報(bào)告
? 提供專業(yè)的配套增值服務(wù)
耐電流測(cè)試是測(cè)試PCB產(chǎn)品的孔互聯(lián)可靠性的一種測(cè)試方法。耐電流測(cè)試是在特殊設(shè)計(jì)的孔鏈上施加一定的直流電流,并持續(xù)一段時(shí)間,電流在孔鏈上產(chǎn)生焦耳熱,熱量傳導(dǎo)到孔附近的基材,基材受熱膨脹, Z方向尺寸變大,產(chǎn)生膨脹應(yīng)力,作用于孔上下焊盤之間,當(dāng)孔的互聯(lián)可靠性不良時(shí),膨脹應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致孔斷裂,從而檢測(cè)出孔的互聯(lián)可靠性不良。
全自動(dòng)耐電流測(cè)試儀采用高精度的模塊和儀表,控制PCB孔鏈以一定的升溫速度升溫,達(dá)到設(shè)定的溫度后,保持一定的時(shí)間,并實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)孔鏈的溫度,電流,以及電阻變化。
全自動(dòng)耐電流測(cè)試儀自動(dòng)完成測(cè)試探頭移動(dòng),對(duì)位,上下,樣品的參數(shù)測(cè)試和批量測(cè)試,樣品冷卻,數(shù)據(jù)保存和記錄,數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析,以及測(cè)試報(bào)告的輸出等。
型號(hào) |
CHCT-6010A |
輸出電流 |
0-10A |
輸出電壓 |
0-60V |
電阻測(cè)量范圍 |
0-1MΩ |
樣品溫度測(cè)量范圍 |
室溫-350℃, |
測(cè)試時(shí)間 |
可以任意設(shè)置>10S的值 |
測(cè)試模式 |
1, 恒流模式;2,恒溫模式; |
測(cè)試探頭 |
4線測(cè)試探頭 |
測(cè)試探頭高度調(diào)節(jié) |
Z軸馬達(dá)自動(dòng)調(diào)節(jié) |
測(cè)試?yán)鋮s方式 |
壓縮空氣強(qiáng)制冷卻 |
對(duì)位 |
雙CCD, 全自動(dòng)CCD對(duì)位,全自動(dòng)4軸(XYZR) |
測(cè)試程序 |
可編程測(cè)試點(diǎn)列表,可進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)試(MP模式),可進(jìn)行循環(huán)測(cè)試(CL模式)。 |
可測(cè)試樣品尺寸 |
不小于700mm。 |
自動(dòng)上下板 |
可以配套自動(dòng)上下板(選配項(xiàng)) |